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文献
J-GLOBAL ID：201802268406423924
整理番号：18A1255141
共鳴駆動シリコン2量子ビット量子ゲートの性能評価【JST・京大機械翻訳】
Performance Assessment of Resonantly Driven Silicon Two-Qubit Quantum Gate
Wu Tong
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of Florida, Gainesville, FL, USA)
,
Guo Jing
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of Florida, Gainesville, FL, USA)
資料名：
IEEE Electron Device Letters
(IEEE Electron Device Letters)
巻： 39 号： 7 ページ： 1096-1099 発行年： 2018年
JST資料番号： B0344B ISSN： 0741-3106 CODEN： EDLEDZ 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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