文献
J-GLOBAL ID:201802269238155738
整理番号:18A1806774
有向NBTIエージングと回復によるSRAM PUFSの信頼性の制御【JST・京大機械翻訳】
Controlling the Reliability of SRAM PUFs With Directed NBTI Aging and Recovery
著者 (2件):
Roelke Alec
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of Virginia, Charlottesville, VA, USA)
,
Stan Mircea R.
(Department of Electrical and Computer Engineering, University of Virginia, Charlottesville, VA, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
(IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems)
巻:
26
号:
10
ページ:
2016-2026
発行年:
2018年
JST資料番号:
W0516A
ISSN:
1063-8210
CODEN:
ITCOB4
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)