文献
J-GLOBAL ID:201802269796889597
整理番号:18A2107408
フラッシュX線測定のための広バンドギャップ半導体検出器の最適化【JST・京大機械翻訳】
Wide Bandgap Semiconductor Detector Optimization for Flash X-Ray Measurements
著者 (2件):
Roecker C.
(ISR-1, Los Alamaos National Laboratory, Los Alamos, NM, 87545)
,
Schirato R.
(ISR-1, Los Alamaos National Laboratory, Los Alamos, NM, 87545)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
NSS/MIC
ページ:
1-4
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)