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文献
J-GLOBAL ID：201802270511118258
整理番号：18A1282430
画像処理による表面むらおよび粒子の識別手法
Discrimination of Thin Stains and Foreign Particles on Electronic Parts’ Surface
原靖彦
(日本大 工)
,
田中宏卓
(日本大 工)
,
白井健二
(日本大 工)
,
菅野純一
(ヴィスコ・テクノロジーズ)
,
細島侑
(ヴィスコ・テクノロジーズ)
,
滝沢義信
(ヴィスコ・テクノロジーズ)
資料名：
エレクトロニクス実装学会誌
(Journal of Japan Institute of Electronics Packaging)
巻： 21 号： 4 ページ： 293-298 発行年： 2018年07月01日
JST資料番号： S0579C ISSN： 1343-9677 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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