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J-GLOBAL ID:201802270680558955   整理番号:18A1211791

InGaN系発光ダイオードにおける効率低下を理解するための実験的測定に関するレビュー【JST・京大機械翻訳】

A Review on Experimental Measurements for Understanding Efficiency Droop in InGaN-Based Light-Emitting Diodes
著者 (10件):
Wang Lai
(Department of Electronic Engineering, Tsinghua University, Beijing 100084, China)
Jin Jie
(Department of Electronic Engineering, Tsinghua University, Beijing 100084, China)
Mi Chenziyi
(Department of Electronic Engineering, Tsinghua University, Beijing 100084, China)
Hao Zhibiao
(Department of Electronic Engineering, Tsinghua University, Beijing 100084, China)
Luo Yi
(Department of Electronic Engineering, Tsinghua University, Beijing 100084, China)
Sun Changzheng
(Department of Electronic Engineering, Tsinghua University, Beijing 100084, China)
Han Yanjun
(Department of Electronic Engineering, Tsinghua University, Beijing 100084, China)
Xiong Bing
(Department of Electronic Engineering, Tsinghua University, Beijing 100084, China)
Wang Jian
(Department of Electronic Engineering, Tsinghua University, Beijing 100084, China)
Li Hongtao
(Department of Electronic Engineering, Tsinghua University, Beijing 100084, China)

資料名:
Materials (Web)  (Materials (Web))

巻: 10  号: 11  ページ: 1233  発行年: 2017年 
JST資料番号: U7237A  ISSN: 1996-1944  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 文献レビュー  発行国: スイス (CHE)  言語: 英語 (EN)
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