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文献
J-GLOBAL ID：201802271170545683
整理番号：18A0725109
高速漏れ意識フルチップ過渡熱推定法【JST・京大機械翻訳】
A Fast Leakage-Aware Full-Chip Transient Thermal Estimation Method
Wang Hai
(State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China)
,
Wan Jiachun
(State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China)
,
Tan Sheldon X.-D.
(Department of Electrical Engineering, University of California, Riverside, CA)
,
Zhang Chi
(State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China)
,
Tang He
(State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China)
,
Yuan Yuan
(School of Automation Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China)
,
Huang Keheng
(Southwest China Research Institute of Electronic Equipment, Chengdu, China)
,
Zhang Zhenghong
(Southwest China Research Institute of Electronic Equipment, Chengdu, China)
資料名：
IEEE Transactions on Computers
(IEEE Transactions on Computers)
巻： 67 号： 5 ページ： 617-630 発行年： 2018年
JST資料番号： C0233A ISSN： 0018-9340 CODEN： ICTOB4 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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