文献
J-GLOBAL ID:201802271853035146
整理番号:18A0281734
MeV SIMSのための二次イオン収率に及ぼす実験パラメータの影響【Powered by NICT】
Influence of experimental parameters on secondary ion yield for MeV-SIMS
著者 (4件):
Stoytschew Valentin
(Ruder Boskovic Institute, Zagreb, Croatia)
,
Bogdanovic Radovic Iva
(Ruder Boskovic Institute, Zagreb, Croatia)
,
Siketic Zdravko
(Ruder Boskovic Institute, Zagreb, Croatia)
,
Jaksic Milko
(Ruder Boskovic Institute, Zagreb, Croatia)
資料名:
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms
(Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms)
巻:
404
ページ:
110-113
発行年:
2017年
JST資料番号:
H0899A
ISSN:
0168-583X
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)