文献
J-GLOBAL ID:201802272752063216
整理番号:18A0860809
冗長ビアのエレクトロマイグレーション故障率【JST・京大機械翻訳】
Electromigration failure rate of redundant via
著者 (3件):
Ahn Jae-Gyung
(Hardware and System Product Development Group, Xilinx, Inc., 2100 Logic Drive San Jose, CA 95124)
,
Yeh Ping-Chin
(Hardware and System Product Development Group, Xilinx, Inc., 2100 Logic Drive San Jose, CA 95124)
,
Chang Jonathan
(Hardware and System Product Development Group, Xilinx, Inc., 2100 Logic Drive San Jose, CA 95124)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
IRPS
ページ:
P-MR.1-1-P-MR.1-5
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)