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文献
J-GLOBAL ID：201802274265908635
整理番号：18A1045815
3ω法によるダイヤモンドとβ-Ga_2O_3薄膜の熱伝導率測定【JST・京大機械翻訳】
Thermal conductivity measurement of diamond and β-Ga2O3 thin films by a 3ω method
Suzuki Shinichiro
(Dept. Chemical Engineering, Graduate School of Engineering, Osaka Prefecture University, Sakai, Osaka, Japan)
,
Ohmagari Shinya
(Advanced Power Electronics Research Center, The National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, Ikeda, Osaka, Japan)
,
Akutsu Yusuke
(Dept. Chemical Engineering, Graduate School of Engineering, Osaka Prefecture University, Sakai, Osaka, Japan)
,
Okamoto Naoki
(Dept. Chemical Engineering, Graduate School of Engineering, Osaka Prefecture University, Sakai, Osaka, Japan)
,
Saito Takeyasu
(Dept. Chemical Engineering, Graduate School of Engineering, Osaka Prefecture University, Sakai, Osaka, Japan)
,
Umezawa Hitoshi
(Advanced Power Electronics Research Center, The National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, Ikeda, Osaka, Japan)
,
Mokuno Yoshiaki
(Advanced Power Electronics Research Center, The National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, Ikeda, Osaka, Japan)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018 号： ICEP-IAAC ページ： 583-584 発行年： 2018年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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