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文献
J-GLOBAL ID：201802274567492709
整理番号：18A0633932
過酷環境用途の4H-SiC上のNi/Nb Ohm接触の高温信頼性
High-Temperature Reliability of Ni/Nb Ohmic Contacts on 4H-SiC For Harsh Environment Applications
VAN CUONG Vuong
(Hiroshima Univ., Hiroshima, JPN)
,
ISHIKAWA Seiji
(Hiroshima Univ., Hiroshima, JPN)
,
ISHIKAWA Seiji
(Phenitec Semiconductor Corp., Okayama, JPN)
,
SEZAKI Hiroshi
(Hiroshima Univ., Hiroshima, JPN)
,
SEZAKI Hiroshi
(Phenitec Semiconductor Corp., Okayama, JPN)
,
MAEDA Tomonori
(Hiroshima Univ., Hiroshima, JPN)
,
MAEDA Tomonori
(Phenitec Semiconductor Corp., Okayama, JPN)
,
KOGANEZAWA Tomoyuki
(Japan Synchrotron Radiation Res. Inst. (JASRI), Hyogo, JPN)
,
YASUNO Satoshi
(Japan Synchrotron Radiation Res. Inst. (JASRI), Hyogo, JPN)
,
MIYAZAKI Takamichi
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
KUROKI Shin-Ichiro
(Hiroshima Univ., Hiroshima, JPN)
資料名：
応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)
(Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 65th ページ： ROMBUNNO.20a-D103-1 発行年： 2018年03月05日
JST資料番号： Y0054B ISSN： 2436-7613 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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