文献
J-GLOBAL ID:201802274662616412
整理番号:18A0126277
プラスチックカプセル封じ超小型回路の定量的加速寿命試験への破壊力学の応用【Powered by NICT】
Applications of fracture mechanics to quantitative accelerated life testing of plastic encapsulated microelectronics
著者 (2件):
Evans John W.
(NASA HQ, Office of Safety and Mission Assurance, Washington, D.C., United States)
,
Sinha Koustav
(CALCE Center, University of Maryland, College Park, MD, United States)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
80
ページ:
317-327
発行年:
2018年
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)