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文献
J-GLOBAL ID：201802275424886508
整理番号：18A0534551
組織切片におけるCeO_2ナノ粒子の無標識検出のためのマイクロX線蛍光分光法と飛行時間型二次イオン質量分析イメージングの組合せ【Powered by NICT】
Combination of micro X-ray fluorescence spectroscopy and time-of-flight secondary ion mass spectrometry imaging for the marker-free detection of CeO2 nanoparticles in tissue sections
Veith Lothar
(Tascon GmbH, Mendelstrasse 17, D-48149 Muenster, Germany. lothar.veith@tascon-gmbh.de)
,
Dietrich Doerthe
,
Vennemann Antje
,
Breitenstein Daniel
,
Engelhard Carsten
,
Karst Uwe
,
Sperling Michael
,
Wiemann Martin
,
Hagenhoff Birgit
資料名：
Journal of Analytical Atomic Spectrometry
(Journal of Analytical Atomic Spectrometry)
巻： 33 号： 3 ページ： 491-501 発行年： 2018年
JST資料番号： C0770C ISSN： 0267-9477 CODEN： JASPE2 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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