文献
J-GLOBAL ID:201802276634158343
整理番号:18A0446696
Si FinFETを用いたモノリシック3次元集積MX_2FETのベンチマーキング【Powered by NICT】
Benchmarking of monolithic 3D integrated MX2 FETs with Si FinFETs
著者 (9件):
Agarwal T.
(Hmec, Leuven, Belgium)
,
Szabo A.
(ETH, Zurich, Switzerland)
,
Bardon M. G.
(Hmec, Leuven, Belgium)
,
Soree B.
(Hmec, Leuven, Belgium)
,
Radu I.
(Hmec, Leuven, Belgium)
,
Raghavan P.
(Hmec, Leuven, Belgium)
,
Luisier M.
(ETH, Zurich, Switzerland)
,
Dehaene W.
(Hmec, Leuven, Belgium)
,
Heyns M.
(Hmec, Leuven, Belgium)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
IEDM
ページ:
5.7.1-5.7.4
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)