文献
J-GLOBAL ID:201802277722824624
整理番号:18A2004845
ナノ構造(ZnO)_1-x(CuO)_x複合半導体のX線ピークプロフィル解析【JST・京大機械翻訳】
X-ray Peak Profile Analysis of Nanostructured (ZnO)1-x(CuO)x Composite Semiconductor
著者 (4件):
Vishnu Chittan M.
(Department of Physics, GITAM Institute of Science, GITAM University, Visakhapatnam 530 045, A.P, India)
,
Mani Kumar C.
(Department of Physics, GITAM Institute of Science, GITAM University, Visakhapatnam 530 045, A.P, India)
,
Sailaja D.
(Department of Physics, S.S.B.N. Degree College (Autonomous), Anantapur 515 001, A.P, India)
,
Rajesh Kumar B.
(Department of Physics, GITAM Institute of Technology, GITAM University, Visakhapatnam 530 045, A.P, India)
資料名:
Materials Today: Proceedings
(Materials Today: Proceedings)
巻:
5
号:
10 P1
ページ:
21098-21106
発行年:
2018年
JST資料番号:
W3531A
ISSN:
2214-7853
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)