文献
J-GLOBAL ID:201802277919842018
整理番号:18A1028743
ポテンシャル誘起劣化回復挙動を考慮した寿命保証試験法【JST・京大機械翻訳】
Lifetime warranty test method considering potential induced degradation recovery behavior
著者 (4件):
Kang Kyungchan
(LG Electronics, 168, Suchul-daero, Gumi-si, Gyeongsangbuk-do, Korea)
,
Kim Byongsu
(LG Electronics, 168, Suchul-daero, Gumi-si, Gyeongsangbuk-do, Korea)
,
Park Sanghwan
(LG Electronics, 168, Suchul-daero, Gumi-si, Gyeongsangbuk-do, Korea)
,
Chang Sungho
(LG Electronics, 168, Suchul-daero, Gumi-si, Gyeongsangbuk-do, Korea)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
PVSC
ページ:
1-5
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)