文献
J-GLOBAL ID:201802278048851924
整理番号:18A0386970
電子デバイスにおける1/f雑音スペクトル研究の性能評価と最適化のための実験技術【Powered by NICT】
Experimental technique for the performance evaluation and optimization of 1/f noise spectrum investigation in electron devices
著者 (4件):
Magnone Paolo
(DTG, University of Padova, Stradella S. Nicola 3, Vicenza, Italy)
,
Traverso Pier Andrea
(DEI “Guglielmo Marconi”, University of Bologna, Viale del Risorgimento 2, Bologna, Italy)
,
Fiegna Claudio
(DEI “Guglielmo Marconi”, University of Bologna, Viale del Risorgimento 2, Bologna, Italy)
,
Fiegna Claudio
(ARCES, University of Bologna, Via Venezia 52, Cesena, FC, Italy)
資料名:
Measurement
(Measurement)
巻:
98
ページ:
421-428
発行年:
2017年
JST資料番号:
W0315B
ISSN:
0263-2241
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)