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文献
J-GLOBAL ID：201802278171356941
整理番号：18A1810939
相変化メモリの信頼性と歩留り向上のための適応ECC技術【JST・京大機械翻訳】
Adaptive ECC Techniques for Reliability and Yield Enhancement of Phase Change Memory
Lu Shyue-Kung
(Dept. Electrical Engineering, National Taiwan University of Science and Technology, Taipei, Taiwan)
,
Li Hui-Ping
(Dept. Electrical Engineering, National Taiwan University of Science and Technology, Taipei, Taiwan)
,
Miyase Kohei
(Dept. Creative Informatics, Kyushu Institute of Technology, Fukuoka, Japan)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018 号： IOLTS ページ： 226-227 発行年： 2018年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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