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J-GLOBAL ID:201802279841782069   整理番号:18A1998460

その場X線シンクロトロンに基づくマイクロ断層撮影によるAA7050中の構成粒子の亀裂による疲れ亀裂偏向の測定【JST・京大機械翻訳】

Measuring fatigue crack deflections via cracking of constituent particles in AA7050 via in situ x-ray synchrotron-based micro-tomography
著者 (6件):
Carter Stephen T.
(School of Aeronautics and Astronautics, Purdue University, 701 W. Stadium Ave, West Lafayette, IN 47907-2045, USA)
Rotella John
(School of Materials Engineering, Purdue University 701 W. Stadium Ave, West Lafayette, IN 47907-2045, USA)
Agyei Ronald F.
(School of Aeronautics and Astronautics, Purdue University, 701 W. Stadium Ave, West Lafayette, IN 47907-2045, USA)
Xiao Xiaghui
(Advanced Photon Source, Argonne National Laboratory, 9700 South Cass Avenue, Argonne, IL 60439-4837, USA)
Sangid Michael D.
(School of Aeronautics and Astronautics, Purdue University, 701 W. Stadium Ave, West Lafayette, IN 47907-2045, USA)
Sangid Michael D.
(School of Materials Engineering, Purdue University 701 W. Stadium Ave, West Lafayette, IN 47907-2045, USA)

資料名:
International Journal of Fatigue  (International Journal of Fatigue)

巻: 116  ページ: 490-504  発行年: 2018年 
JST資料番号: D0802B  ISSN: 0142-1123  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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