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文献
J-GLOBAL ID：201802279935634907
整理番号：18A1212429
長期劣化とサイクリングの下でのボードレベル熱試験におけるENIGとENEPIG表面仕上げのパッケージング信頼性効果【JST・京大機械翻訳】
Packaging Reliability Effect of ENIG and ENEPIG Surface Finishes in Board Level Thermal Test under Long-Term Aging and Cycling
Shen Chaobo
(Center for Advanced Vehicle and Extreme Environment Electronics (CAVE3), Auburn University, Auburn, AL 36849, USA)
,
Hai Zhou
(Center for Advanced Vehicle and Extreme Environment Electronics (CAVE3), Auburn University, Auburn, AL 36849, USA)
,
Zhao Cong
(Center for Advanced Vehicle and Extreme Environment Electronics (CAVE3), Auburn University, Auburn, AL 36849, USA)
,
Zhang Jiawei
(Center for Advanced Vehicle and Extreme Environment Electronics (CAVE3), Auburn University, Auburn, AL 36849, USA)
,
Evans John L.
(Center for Advanced Vehicle and Extreme Environment Electronics (CAVE3), Auburn University, Auburn, AL 36849, USA)
,
Bozack Michael J.
(Center for Advanced Vehicle and Extreme Environment Electronics (CAVE3), Auburn University, Auburn, AL 36849, USA)
,
Suhling Jeffrey C.
(Center for Advanced Vehicle and Extreme Environment Electronics (CAVE3), Auburn University, Auburn, AL 36849, USA)
資料名：
Materials (Web)
(Materials (Web))
巻： 10 号： 5 ページ： 451 発行年： 2017年
JST資料番号： U7237A ISSN： 1996-1944 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： スイス (CHE) 言語： 英語 (EN)
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