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文献
J-GLOBAL ID：201802281126936663
整理番号：18A0484003
平坦スペクトル応答X線ダイオード上の金光電陰極汚染の影響【Powered by NICT】
Effect of gold photocathode contamination on a flat spectral response X-ray diode
Wang Kun-lun
(Key laboratory of Pulsed power IFP CAEP, Mianyang 621900, China)
,
Zhang Si-qun
(Key laboratory of Pulsed power IFP CAEP, Mianyang 621900, China)
,
Zhou Shao-tong
(Key laboratory of Pulsed power IFP CAEP, Mianyang 621900, China)
,
Huang Xian-bin
(Key laboratory of Pulsed power IFP CAEP, Mianyang 621900, China)
,
Ren Xiao-dong
(Key laboratory of Pulsed power IFP CAEP, Mianyang 621900, China)
,
Dan Jia-kun
(Key laboratory of Pulsed power IFP CAEP, Mianyang 621900, China)
,
Xu Qiang
(Key laboratory of Pulsed power IFP CAEP, Mianyang 621900, China)
資料名：
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment
(Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment)
巻： 884 ページ： 75-81 発行年： 2018年
JST資料番号： D0208B ISSN： 0168-9002 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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