文献
J-GLOBAL ID:201802281205691125
整理番号:18A0203409
多重RAMのための効率的な組込み自己修復スキーム【Powered by NICT】
An efficient built-in self-repair scheme for multiple RAMs
著者 (2件):
Nair Arathy S
(Department of electronics and Communication Engineering, Rajagiri School of Engineering and Technology, Kakkanad, Kochi, India)
,
Bonifus P L
(Department of electronics and Communication Engineering, Rajagiri School of Engineering and Technology, Kakkanad, Kochi, India)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
RTEICT
ページ:
2076-2080
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)