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文献
J-GLOBAL ID：201802281678163169
整理番号：18A0268178
ディジタル電子回折顕微鏡写真を用いたNiggli還元細胞理論に基づく格子パラメータの正確な決定【Powered by NICT】
Accurate determination of lattice parameters based on Niggli reduced cell theory by using digitized electron diffraction micrograph
Yang Yi
(School of Materials Science and Engineering, Xiangtan University, Xiangtan 411105, China)
,
Cai Canying
(School of Materials Science and Engineering, Xiangtan University, Xiangtan 411105, China)
,
Lin Jianguo
(School of Materials Science and Engineering, Xiangtan University, Xiangtan 411105, China)
,
Gong Lunjun
(School of Materials Science and Engineering, Xiangtan University, Xiangtan 411105, China)
,
Yang Qibin
(School of Materials Science and Engineering, Xiangtan University, Xiangtan 411105, China)
資料名：
Micron
(Micron)
巻： 96 ページ： 9-15 発行年： 2017年
JST資料番号： E0318E ISSN： 0968-4328 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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