前のページに戻る
この文献は全文を取り寄せることができます
JDreamⅢ複写サービスから文献全文の複写（冊子体のコピー）をお申込みできます。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
既に、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDをお持ちの方
JDreamⅢ複写サービスのご利用が初めての方
取り寄せる文献のタイトルと詳細
文献
J-GLOBAL ID：201802282437290502
整理番号：18A0200960
産業計測技術の検証による挿入損特性化のためのPCB設計と解析最適化【Powered by NICT】
PCB design and analysis optimization for insertion loss characterization by validating industry metrologies
Lin Cucumber
(Chung Yuan Christian University, Department of Electronic Engineering, 200 Chung Pei Road, Chung Li District, Taoyuan City, Taiwan (R.O.C.) 32023)
,
Shiue G. H.
(Chung Yuan Christian University, Department of Electronic Engineering, 200 Chung Pei Road, Chung Li District, Taoyuan City, Taiwan (R.O.C.) 32023)
,
Hsu Jimmy
(Intel Microelectronics Asia LLC, Taiwan Branch 20F, #369, Sec. 7, Zhong-Xiao E. Rd., Nan-Gang District, Taipei, Taiwan (R.O.C.) 11561)
,
Su Thonas
(Intel Microelectronics Asia LLC, Taiwan Branch 20F, #369, Sec. 7, Zhong-Xiao E. Rd., Nan-Gang District, Taipei, Taiwan (R.O.C.) 11561)
,
Lin Jay
(Intel Microelectronics Asia LLC, Taiwan Branch 20F, #369, Sec. 7, Zhong-Xiao E. Rd., Nan-Gang District, Taipei, Taiwan (R.O.C.) 11561)
,
Lai Cloud
(Intel Microelectronics Asia LLC, Taiwan Branch 20F, #369, Sec. 7, Zhong-Xiao E. Rd., Nan-Gang District, Taipei, Taiwan (R.O.C.) 11561)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： IMPACT ページ： 327-330 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
JDreamⅢ複写サービスとは
JDreamⅢ複写サービスは、学術文献の全文を複写（コピー）して取り寄せできる有料サービスです。インターネットに公開されていない文献や、図書館に収録されていない文献の全文を、オンラインで取り寄せることができます。J-GLOBALの整理番号にも対応しているので、申し込みも簡単にできます。全文の複写（コピー）は郵送またはFAXでお送りします
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。