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文献
J-GLOBAL ID：201802284437854268
整理番号：18A2207303
大気中光電子収量分光分析による有機薄膜半導体のエネルギー準位の測定
Investigation for Energy Levels of an Organic Thin-film Semiconductor by Photoemission Yield Spectroscopy in Air
小汲佳祐
(地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター)
,
藤巻康人
(地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター)
,
中川貴文
(東京大学大学院工学系研究科機械工学専攻)
,
松尾豊
(東京大学大学院工学系研究科機械工学専攻)
資料名：
分析化学
巻： 67 号： 11 ページ： 647-651(J-STAGE) 発行年： 2018年
JST資料番号： F0008A ISSN： 0525-1931 CODEN： BNSKAK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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