文献
J-GLOBAL ID:201802285015222247
整理番号:18A0258891
サポートベクトル回帰を用いた光学的微細構造の粒径測定【Powered by NICT】
Grain size measurement in optical microstructure using support vector regression
著者 (5件):
K. Gajalakshmi
(Department of Computer Science and Engineering, Annamalai University, Annamalainagar, Tamilnadu 608002, India)
,
S. Palanivel
(Department of Computer Science and Engineering, Annamalai University, Annamalainagar, Tamilnadu 608002, India)
,
N.J. Nalini
(Department of Computer Science and Engineering, Annamalai University, Annamalainagar, Tamilnadu 608002, India)
,
S. Saravanan
(Department of Mechanical Engineering, Annamalai University, Annamalainagar, India)
,
K. Raghukandan
(Department of Manufacturing Engineering, Annamalai University, Annamalainagar, India)
資料名:
Optik
(Optik)
巻:
138
ページ:
320-327
発行年:
2017年
JST資料番号:
D0251A
ISSN:
0030-4026
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)