文献
J-GLOBAL ID:201802285028758636
整理番号:18A0535791
パンクチャドH adamard符号の設計と誤差性能【Powered by NICT】
Design and error performance of punctured hadamard codes
著者 (4件):
Jiang Sheng
(Department of Electronic and Information Engineering, Hong Kong Polytechnic University, Hong Kong)
,
Lau Francis C. M.
(Department of Electronic and Information Engineering, Hong Kong Polytechnic University, Hong Kong)
,
Tam Wai M.
(Department of Electronic and Information Engineering, Hong Kong Polytechnic University, Hong Kong)
,
Sham Chiu-W.
(Department of Computer Science, The University of Auckland, New Zealand)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
APCC
ページ:
1-5
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)