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文献
J-GLOBAL ID：201802286274834480
整理番号：18A0242974
HfO_2~ベースIMPLYゲート操作の実験的時間発展研究【Powered by NICT】
Experimental Time Evolution Study of the HfO2-Based IMPLY Gate Operation
Maestro-Izquierdo Marcos
(Departament d’Enginyeria Electronica, Universitat Auto`noma de Barcelona, Barcelona, Spain)
,
Martin-Martinez Javier
(Departament d’Enginyeria Electronica, Universitat Auto`noma de Barcelona, Barcelona, Spain)
,
Yepes Albert Crespo
(Departament d’Enginyeria Electronica, Universitat Auto`noma de Barcelona, Barcelona, Spain)
,
Escudero Manel
(Electronic Engineering Department, Universitat Polite`cnica de Catalunya, Barcelona, Spain)
,
Rodriguez Rosana
(Departament d’Enginyeria Electronica, Universitat Auto`noma de Barcelona, Barcelona, Spain)
,
Nafria Montserrat
(Departament d’Enginyeria Electronica, Universitat Auto`noma de Barcelona, Barcelona, Spain)
,
Aymerich Xavier
(Departament d’Enginyeria Electronica, Universitat Auto`noma de Barcelona, Barcelona, Spain)
,
Rubio Antonio
(Electronic Engineering Department, Universitat Polite`cnica de Catalunya, Barcelona, Spain)
資料名：
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻： 65 号： 2 ページ： 404-410 発行年： 2018年
JST資料番号： C0222A ISSN： 0018-9383 CODEN： IETDAI 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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