文献
J-GLOBAL ID:201802286274834480
整理番号:18A0242974
HfO_2~ベースIMPLYゲート操作の実験的時間発展研究【Powered by NICT】
Experimental Time Evolution Study of the HfO2-Based IMPLY Gate Operation
著者 (8件):
Maestro-Izquierdo Marcos
(Departament d’Enginyeria Electronica, Universitat Auto`noma de Barcelona, Barcelona, Spain)
,
Martin-Martinez Javier
(Departament d’Enginyeria Electronica, Universitat Auto`noma de Barcelona, Barcelona, Spain)
,
Yepes Albert Crespo
(Departament d’Enginyeria Electronica, Universitat Auto`noma de Barcelona, Barcelona, Spain)
,
Escudero Manel
(Electronic Engineering Department, Universitat Polite`cnica de Catalunya, Barcelona, Spain)
,
Rodriguez Rosana
(Departament d’Enginyeria Electronica, Universitat Auto`noma de Barcelona, Barcelona, Spain)
,
Nafria Montserrat
(Departament d’Enginyeria Electronica, Universitat Auto`noma de Barcelona, Barcelona, Spain)
,
Aymerich Xavier
(Departament d’Enginyeria Electronica, Universitat Auto`noma de Barcelona, Barcelona, Spain)
,
Rubio Antonio
(Electronic Engineering Department, Universitat Polite`cnica de Catalunya, Barcelona, Spain)
資料名:
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻:
65
号:
2
ページ:
404-410
発行年:
2018年
JST資料番号:
C0222A
ISSN:
0018-9383
CODEN:
IETDAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)