文献
J-GLOBAL ID:201802286646429651
整理番号:18A0588496
フラッシュ走査:2次元二分を用いたPSD顕微鏡法のための複雑な物体の超高速局所走査【Powered by NICT】
Flash scanning: An ultra fast local scanning of complicated objects for PSD microscopy using 2D bisection
著者 (2件):
Rahimi Mehdi
(Department of Electrical and Biomedical Engineering University of Nevada, Reno Reno, Nevada 89557, USA)
,
Shen Yantao
(Department of Electrical and Biomedical Engineering University of Nevada, Reno Reno, Nevada 89557, USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
RCAR
ページ:
721-726
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)