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文献
J-GLOBAL ID：201802286989051615
整理番号：18A0517103
単一故障の解析伝搬経路による二重縮退故障に対するATPG法【Powered by NICT】
An ATPG Method for Double Stuck-At Faults by Analyzing Propagation Paths of Single Faults
Wang Peikun
(Department of Electrical Engineering and Information Systems, The University of Tokyo, Tokyo, Japan)
,
Moore Conrad Jinyong
(Department of Electrical Engineering and Information Systems, The University of Tokyo, Tokyo, Japan)
,
Gharehbaghi Amir Masoud
(Department of Electrical Engineering and Information Systems, The University of Tokyo, Tokyo, Japan)
,
Fujita Masahiro
(VLSI Design and Education Center, The University of Tokyo, Tokyo, Japan)
資料名：
IEEE Transactions on Circuits and Systems 1: Regular Papers
(IEEE Transactions on Circuits and Systems 1: Regular Papers)
巻： 65 号： 3 ページ： 1063-1074 発行年： 2018年
JST資料番号： C0226B ISSN： 1549-8328 CODEN： ITCSCH 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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