文献
J-GLOBAL ID:201802287177324839
整理番号:18A1288212
確率的IMT(絶縁体-金属-遷移)ニューロン 分岐における熱およびしきい値雑音の相互作用【JST・京大機械翻訳】
Stochastic IMT (Insulator-Metal-Transition) Neurons: An Interplay of Thermal and Threshold Noise at Bifurcation
著者 (4件):
Parihar Abhinav
(School of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology)
,
Jerry Matthew
(Department of Electrical Engineering, University of Notre Dame)
,
Datta Suman
(Department of Electrical Engineering, University of Notre Dame)
,
Raychowdhury Arijit
(School of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology)
資料名:
Frontiers in Neuroscience (Web)
(Frontiers in Neuroscience (Web))
巻:
12
ページ:
210
発行年:
2018年
JST資料番号:
U7087A
ISSN:
1662-453X
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
スイス (CHE)
言語:
英語 (EN)