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文献
J-GLOBAL ID：201802287621209309
整理番号：18A1044546
CMOS技術研究のためのリング発振器収量学習法【JST・京大機械翻訳】
Ring oscillator yield learning methodologies for CMOS technology research
Chan Victor
(IBM Research, Albany Nanotechnology Center, 257 Fuller Road, Albany, NY 12203, USA)
,
Lea Dallas
(IBM Research, Albany Nanotechnology Center, 257 Fuller Road, Albany, NY 12203, USA)
,
Bergendahl Marc
(IBM Research, Albany Nanotechnology Center, 257 Fuller Road, Albany, NY 12203, USA)
,
Karve Gauri
(IBM Research, Albany Nanotechnology Center, 257 Fuller Road, Albany, NY 12203, USA)
,
Levin T. M.
(IBM Research, Albany Nanotechnology Center, 257 Fuller Road, Albany, NY 12203, USA)
,
Yeung Chun-Wing
(IBM Research, Albany Nanotechnology Center, 257 Fuller Road, Albany, NY 12203, USA)
,
Guo Dechao
(IBM Research, Albany Nanotechnology Center, 257 Fuller Road, Albany, NY 12203, USA)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018 号： ASMC ページ： 54-57 発行年： 2018年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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