文献
J-GLOBAL ID:201802287662375339
整理番号:18A1677282
LBISTにおける電力削減のための各種テストパターン発生器の探索【JST・京大機械翻訳】
Exploration of Various Test Pattern Generators for Power Reduction in LBIST
著者 (2件):
Jambagi Savitri Basappa
(VLSI design and embedded system, VTU Extension Centre UTL Technologies Ltd, Bangalore, India)
,
Yellampalli Siva S.
(VLSI design and embedded system, VTU Extension Centre UTL Technologies Ltd, Bangalore, India)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
CTCEEC
ページ:
710-713
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)