文献
J-GLOBAL ID:201802288063738562
整理番号:18A1513769
75fs_RMSジッタと-249.7dB FOMを用いた28nm CMOSにおける5.5~7.3GHzアナログ分数NサンプリングPLL【JST・京大機械翻訳】
A 5.5-7.3 GHz Analog Fractional-N Sampling PLL in 28-nm CMOS with 75 fsrmsJitter and -249.7 dB FoM
著者 (11件):
Wu Wanghua
(Samsung Semiconductor Inc., San Jose, CA, USA)
,
Yao Chih-Wei
(Samsung Semiconductor Inc., San Jose, CA, USA)
,
Godbole Kunal
(Samsung Semiconductor Inc., San Jose, CA, USA)
,
Ni Ronghua
(Samsung Semiconductor Inc., San Jose, CA, USA)
,
Chiang Pei-Yuan
(Samsung Semiconductor Inc., San Jose, CA, USA)
,
Han Yongping
(Samsung Semiconductor Inc., San Jose, CA, USA)
,
Zuo Yongrong
(Samsung Semiconductor Inc., San Jose, CA, USA)
,
Verma Ashutosh
(Samsung Semiconductor Inc., San Jose, CA, USA)
,
Lu Ivan Siu-Chuang
(Samsung Semiconductor Inc., San Jose, CA, USA)
,
Son Sang Won
(Samsung Semiconductor Inc., San Jose, CA, USA)
,
Cho Thomas Byunghak
(Samsung Electronics Co. Ltd., Hwaseong-si, KR)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
RFIC
ページ:
6403-6408
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)