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文献
J-GLOBAL ID：201802288311758972
整理番号：18A0283735
非晶質シリコンモデルのゆらぎ顕微鏡法解析【Powered by NICT】
Fluctuation microscopy analysis of amorphous silicon models
Gibson J.M.
(Northeastern University, Department of Physics, Boston MA 02115, USA)
,
Gibson J.M.
(FAMU/FSU Joint College of Engineering, 225 Pottsdamer Street, Tallahassee, FL 32310, United States)
,
Treacy M.M.J.
(Arizona State University, Department of Physics, Tempe AZ 85287, USA)
資料名：
Ultramicroscopy
(Ultramicroscopy)
巻： 176 ページ： 74-79 発行年： 2017年
JST資料番号： W0972A ISSN： 0304-3991 CODEN： ULTRD 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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