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文献
J-GLOBAL ID：201802288796449247
整理番号：18A1259205
汚染ガラス碍子の漏れ電流サンプリングと雑音除去法に関する研究【JST・京大機械翻訳】
Research on leakage current sampling and denoising method of contamination glass insulators
Zhengfa Liu
(Electric Power Research Institute of Chongqing Power Electric Corporation of State Grid, Chongqing, China)
,
Gaolin Wu
(Electric Power Research Institute of Chongqing Power Electric Corporation of State Grid, Chongqing, China)
,
Qing Zhou
(Electric Power Research Institute of Chongqing Power Electric Corporation of State Grid, Chongqing, China)
,
Qigang Fu
(State Grid Chongqing Electric Power Company, Chongqing, China)
,
Qianbo Xiao
(Electric Power Research Institute of Chongqing Power Electric Corporation of State Grid, Chongqing, China)
,
Jianlin Hu
(State Key Laboratory of Power Transmission Equipment & System Security and New Technology, Chongqing University, Chongqing, China)
,
Maoqiang Bi
(State Key Laboratory of Power Transmission Equipment & System Security and New Technology, Chongqing University, Chongqing, China)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018 号： ICPADM ページ： 892-895 発行年： 2018年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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