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文献
J-GLOBAL ID：201802289437089340
整理番号：18A2107230
スペクトル検出を用いたX線後方散乱イメージング断層合成の概念の証明【JST・京大機械翻訳】
Proof of Concept for X-Ray Backscatter Imaging Tomosynthesis Using Spectral Detection
Rolison Lucas M.
(Department of Materials Science and Engineering, Nuclear Engineering Program, University of Florida, Gainesville, FL 32611, USA)
,
Samant Sanjiv S.
(Department of Radiation Oncology, University of Florida, Gainesville, FL 32611, USA)
,
Jordan Kelly A.
,
Baciak James E.
(Department of Materials Science and Engineering, Nuclear Engineering Program, University of Florida, Gainesville, FL 32611, USA)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： NSS/MIC ページ： 1-3 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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