文献
J-GLOBAL ID:201802291612609415
整理番号:18A1596971
自己および相互加熱を考慮したFEOL信頼性のための解析的多段階熱モデル【JST・京大機械翻訳】
Analytical Multistage Thermal Model for FEOL Reliability Considering Self-and Mutual-Heating
著者 (6件):
Chen Wangyong
(Institute of Microelectronics, Peking University, Beijing, China)
,
Cai Linlin
(Institute of Microelectronics, Peking University, Beijing, China)
,
Zhao Kai
(School of Information and Communication, Beijing Information Science and Technology University, Beijing, China)
,
Zhang Xing
(Institute of Microelectronics, Peking University, Beijing, China)
,
Liu Xiaoyan
(Institute of Microelectronics, Peking University, Beijing, China)
,
Du Gang
(Institute of Microelectronics, Peking University, Beijing, China)
資料名:
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻:
65
号:
9
ページ:
3633-3639
発行年:
2018年
JST資料番号:
C0222A
ISSN:
0018-9383
CODEN:
IETDAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)