文献
J-GLOBAL ID:201802292091211321
整理番号:18A0860752
医療機器のための故障の物理とシステムレベル信頼性の間の関係の作成【JST・京大機械翻訳】
Making the connection between physics of failure and system-level reliability for medical devices
著者 (3件):
Fenner Andy
(Microsystems Technology, Medtronic, Tempe, AZ 85281)
,
Porter Mark
(Tempe Campus Reliability, Medtronic, Tempe, AZ 85281)
,
Crutchfield Randy
(Product Development, Medtronic, Tempe, AZ 85281)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
IRPS
ページ:
6A.2-1-6A.2-5
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)