文献
J-GLOBAL ID:201902210188171394
整理番号:19A2176072
IDEF-X HDBD:半導体検出器を用いた分光イメージングのための低雑音ASIC【JST・京大機械翻訳】
IDeF-X HDBD:low-noise ASIC for Spectro-imaging with semiconductor detectors
著者 (9件):
Baudin D.
(IRFU/DEDIP, CEA, Universite ́ Paris-Saclay, Gif-sur-Yvette, France)
,
Altenmuller K.
(Physik-Department, Technical University of Munich and CEA Saclay (IRFU/DPHP), Garching, 85748)
,
Bausson P-A.
(IRFU/DEDIP, CEA, Universite ́ Paris-Saclay, Gif-sur-Yvette, France)
,
Coppolani X.
(IRFU/DEDIP, CEA, Universite ́ Paris-Saclay, Gif-sur-Yvette, France)
,
Gevin O.
(IRFU/DEDIP, CEA, Universite ́ Paris-Saclay, Gif-sur-Yvette, France)
,
Limousin O.
(IRFU/DAP, CEA, Universite ́ Paris-Saclay, Gif-sur-Yvette, France)
,
Maier D.
(IRFU/DAP, CEA, Universite ́ Paris-Saclay, Gif-sur-Yvette, France)
,
Meuris A.
(IRFU/DAP, CEA, Universite ́ Paris-Saclay, Gif-sur-Yvette, France)
,
Passeron C.
(IRFU/DEDIP, CEA, Universite ́ Paris-Saclay, Gif-sur-Yvette, France)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
NSS/MIC
ページ:
1-2
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)