文献
J-GLOBAL ID:201902210975228486
整理番号:19A1113347
電離放射線に関するアナログ-ディジタル変換器性能に関する調査【JST・京大機械翻訳】
A Survey on Analog-to-Digital Converter Performance with Respect to Ionizing Radiation
著者 (3件):
Mueller Steffen
(Institute for Electronics En-gineering (LTE), Friedrich-Alexander University of Erlangen-Nuremberg (FAU), Erlangen, 91058, Germany)
,
Weigel Robert
(Institute for Electronics En-gineering (LTE), Friedrich-Alexander University of Erlangen-Nuremberg (FAU), Erlangen, 91058, Germany)
,
Koelpin Alexander
(Chair for General Electrical Engineering and Metrology, Brandenburg University of Technology Cottbus-Senftenberg (BTU), Cottbus, 03046, Germany)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
RADECS
ページ:
1-4
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)