文献
J-GLOBAL ID:201902212135140541
整理番号:19A0500017
揮発性とソフトウェア欠陥を予測するための仕様計量に関する経験的研究【JST・京大機械翻訳】
Empirical Study on Specification Metrics to Predict Volatility and Software Defects
著者 (6件):
Tsunoda Taketo
(Department of Computer Science and Engineering, Waseda University, Tokyo, Japan)
,
Washizaki Hironori
(Department of Computer Science and Engineering, Waseda University, Tokyo, Japan)
,
Fukazawa Yoshiaki
(Department of Computer Science and Engineering, Waseda University, Tokyo, Japan)
,
Inoue Sakae
(Fujitsu Connected Technologies Limited, Kanagawa, Japan)
,
Hanai Yoshiiku
(Fujitsu Connected Technologies Limited, Kanagawa, Japan)
,
Kanazawa Masanobu
(Fujitsu Connected Technologies Limited, Kanagawa, Japan)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
TENCON
ページ:
2479-2484
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)