文献
J-GLOBAL ID:201902213133468807
整理番号:19A1414858
BZT-BCTセラミックにおける単極電気疲労中のドメイン破壊と欠陥蓄積【JST・京大機械翻訳】
Domain disruption and defect accumulation during unipolar electric fatigue in a BZT-BCT ceramic
著者 (4件):
Fan Zhongming
(Department of Materials Science and Engineering, Iowa State University, Ames, Iowa 50011, USA)
,
Zhou Chao
(Multi-disciplinary Materials Research Center, Frontier Institute of Science and Technology, Xi’an Jiaotong University, Xi’an 710049, China)
,
Ren Xiaobing
(Multi-disciplinary Materials Research Center, Frontier Institute of Science and Technology, Xi’an Jiaotong University, Xi’an 710049, China)
,
Tan Xiaoli
(Department of Materials Science and Engineering, Iowa State University, Ames, Iowa 50011, USA)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
111
号:
25
ページ:
252902-252902-4
発行年:
2017年
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)