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J-GLOBAL ID:201902213133468807   整理番号:19A1414858

BZT-BCTセラミックにおける単極電気疲労中のドメイン破壊と欠陥蓄積【JST・京大機械翻訳】

Domain disruption and defect accumulation during unipolar electric fatigue in a BZT-BCT ceramic
著者 (4件):
Fan Zhongming
(Department of Materials Science and Engineering, Iowa State University, Ames, Iowa 50011, USA)
Zhou Chao
(Multi-disciplinary Materials Research Center, Frontier Institute of Science and Technology, Xi’an Jiaotong University, Xi’an 710049, China)
Ren Xiaobing
(Multi-disciplinary Materials Research Center, Frontier Institute of Science and Technology, Xi’an Jiaotong University, Xi’an 710049, China)
Tan Xiaoli
(Department of Materials Science and Engineering, Iowa State University, Ames, Iowa 50011, USA)

資料名:
Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)

巻: 111  号: 25  ページ: 252902-252902-4  発行年: 2017年 
JST資料番号: H0613A  ISSN: 0003-6951  CODEN: APPLAB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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