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文献
J-GLOBAL ID:201902213194584291   整理番号:19A1521212

極性軸配向エピタキシャルPb(Zr,Ti)O3膜におけるシンクロトロンを用いた時間分解X線回折による印加電場下でのその場格子変形の時間応答実証

Time response demonstration of in situ lattice deformation under an applied electric field by synchrotron-based time-resolved X-ray diffraction in polar-axis-oriented epitaxial Pb(Zr,Ti)O3 film
著者 (11件):
SATO Tomoya
(Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN)
ICHINOSE Daichi
(Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN)
OSHIMA Naoya
(Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN)
MIMURA Takanori
(Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN)
NEMOTO Yuichi
(Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN)
SHIMIZU Takao
(Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN)
IMAI Yasuhiko
(Japan Synchrotron Radiation Res. Inst. (JASRI), Hyogo, JPN)
UCHIDA Hiroshi
(Sophia Univ., Tokyo, JPN)
SAKATA Osami
(Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN)
SAKATA Osami
(National Inst. for Materials Sci., Hyogo, JPN)
FUNAKUBO Hiroshi
(Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN)

資料名:
Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)

巻: 57  号:ページ: 0902B8.1-0902B8.5  発行年: 2018年09月 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  CODEN: JJAPB6  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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