文献
J-GLOBAL ID:201902213194584291
整理番号:19A1521212
極性軸配向エピタキシャルPb(Zr,Ti)O3膜におけるシンクロトロンを用いた時間分解X線回折による印加電場下でのその場格子変形の時間応答実証
Time response demonstration of in situ lattice deformation under an applied electric field by synchrotron-based time-resolved X-ray diffraction in polar-axis-oriented epitaxial Pb(Zr,Ti)O3 film
著者 (11件):
SATO Tomoya
(Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN)
,
ICHINOSE Daichi
(Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN)
,
OSHIMA Naoya
(Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN)
,
MIMURA Takanori
(Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN)
,
NEMOTO Yuichi
(Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN)
,
SHIMIZU Takao
(Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN)
,
IMAI Yasuhiko
(Japan Synchrotron Radiation Res. Inst. (JASRI), Hyogo, JPN)
,
UCHIDA Hiroshi
(Sophia Univ., Tokyo, JPN)
,
SAKATA Osami
(Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN)
,
SAKATA Osami
(National Inst. for Materials Sci., Hyogo, JPN)
,
FUNAKUBO Hiroshi
(Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻:
57
号:
9
ページ:
0902B8.1-0902B8.5
発行年:
2018年09月
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
CODEN:
JJAPB6
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)