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文献
J-GLOBAL ID：201902216893290488
整理番号：19A0473067
長期サービスGISから得られた劣化絶縁スペーサ用誘電体損失試験装置の開発【JST・京大機械翻訳】
Development of Dielectric Loss Test Device for Aged Insulating Spacer Taken from Long-term Service GIS
Wang Zengbin
(EPRI of Guangdong Power Grid Co, Ltd, Guangzhou, Guangdong, P.R. China)
,
Shao Yingyu
(School of Electrical Engineering, Xi’an Jiaotong University, Xi’an, Shaanxi, P.R. China)
,
Liu Cong
(School of Electrical Engineering, Xi’an Jiaotong University, Xi’an, Shaanxi, P.R. China)
,
Chen Wan
(School of Electrical Engineering, Xi’an Jiaotong University, Xi’an, Shaanxi, P.R. China)
,
Chen Yu
(School of Electrical Engineering, Xi’an Jiaotong University, Xi’an, Shaanxi, P.R. China)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018 号： ICD ページ： 1-4 発行年： 2018年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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