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文献
J-GLOBAL ID:201902221281363257   整理番号:19A2659407

マイクロデバイスを用いたX線結晶構造解析の高速化とリガンドスクリーニングへの応用

著者 (11件):
竹田怜央
(北大 大学院総合化学院)
真栄城正寿
(北大 大学院工学研究院)
真栄城正寿
(理研 放射光科学研究セ)
伊藤翔
(兵庫県大)
伊藤翔
(リガク)
上野剛
(理研 放射光科学研究セ)
平田邦夫
(理研 放射光科学研究セ)
石田晃彦
(北大 大学院工学研究院)
谷博文
(北大 大学院工学研究院)
山本雅貴
(理研 放射光科学研究セ)
渡慶次学
(北大 大学院工学研究院)

資料名:
化学とマイクロ・ナノシステム学会研究会講演要旨集

巻: 39th  ページ: 83  発行年: 2019年05月27日 
JST資料番号: L4117A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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