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文献
J-GLOBAL ID:201902221309571497   整理番号:19A2857131

電圧オーバシュート下のHBM保護におけるゲート結合シリコン制御整流器の解析【JST・京大機械翻訳】

Analysis of gate-coupled silicon controlled rectifier on HBM protection under voltage overshoot
著者 (4件):
Madhusoodhanan Syam
(Department of Electrical Engineering, University of Arkansas, Fayetteville, AR, 72701, USA)
Sankaralingam Rajkumar
(Texas Instruments, Inc, Dallas, TX, 75243, USA)
Boselli Gianluca
(Texas Instruments, Inc, Dallas, TX, 75243, USA)
Chen Zhong
(Department of Electrical Engineering, University of Arkansas, Fayetteville, AR, 72701, USA)

資料名:
Journal of Electrostatics  (Journal of Electrostatics)

巻: 102  ページ: Null  発行年: 2019年 
JST資料番号: W0917A  ISSN: 0304-3886  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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