文献
J-GLOBAL ID:201902221653566968
整理番号:19A0191756
組込みマイクロエレクトロニクスシステムのための粗粒度並列プログラムのFonmal検証【JST・京大機械翻訳】
Fonmal Verification of Coarse-Grained Parallel Programs for Embedded Microelectronic Systems
著者 (2件):
Pakharev S.M.
(SUAI, State University of aerospace instrumentation, Saint-Petersburg, Russia)
,
Syschikov A.Y.
(SUAI, State University of aerospace instrumentation, Saint-Petersburg, Russia)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2018
号:
WECONF
ページ:
1-6
発行年:
2018年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)