文献
J-GLOBAL ID:201902224792102050
整理番号:19A2571836
光励起による半導体試験のためのミリ波帯における表面波技術【JST・京大機械翻訳】
Surface Wave Technique at Millimeter Waveband for Semiconductor Testing by Photoexcitation
著者 (5件):
Vertiy Alexey
(Quasioptics Dept, IRE NASU, Kharkiv, 61085, Ukraine)
,
Mizrakhy Sergey
(Quasioptics Dept, IRE NASU, Kharkiv, 61085, Ukraine)
,
Uzlenkov Alexander
(Quasioptics Dept, IRE NASU, Kharkiv, 61085, Ukraine)
,
Ersland Peter
(MACOM Technology Solutions Co, Lowell MA, 01854, USA)
,
Mil’shtein Sam
(Advanced Electronic Technology Center, UMass, Lowell MA, 01854, USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2019
号:
UKRCON
ページ:
218-221
発行年:
2019年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)