文献
J-GLOBAL ID:201902224970519942
整理番号:19A0516340
突然変異試験コストを低減するための改良遺伝的アルゴリズム【JST・京大機械翻訳】
Improved Genetic Algorithm to Reduce Mutation Testing Cost
著者 (2件):
Bashir Muhammad Bilal
(Center for Software Dependability, Capital University of Science and Technology, Islamabad, Pakistan)
,
Nadeem Aamer
(Center for Software Dependability, Capital University of Science and Technology, Islamabad, Pakistan)
資料名:
IEEE Access
(IEEE Access)
巻:
5
ページ:
3657-3674
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2422A
ISSN:
2169-3536
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)