文献
J-GLOBAL ID:201902225983790801
整理番号:19A2571569
デバイスから回路へ:5nmナノシートの性能のモデリング【JST・京大機械翻訳】
From devices to circuits: modelling the performance of 5nm nanosheets
著者 (11件):
Brown Andrew R.
(Synopsys Northern Europe Ltd, Glasgow, UK)
,
Wang Liping
(Synopsys Northern Europe Ltd, Glasgow, UK)
,
Asenov Plamen
(Synopsys Northern Europe Ltd, Glasgow, UK)
,
Klupfel Fabian J.
(Fraunhofer IISB, Erlangen, 91058, Germany)
,
Cheng Binjie
(Synopsys Northern Europe Ltd, Glasgow, UK)
,
Martinie Sebastien
(CEA Leti, Grenoble, 38054, France)
,
Rozeau Olivier
(CEA Leti, Grenoble, 38054, France)
,
Barraud Sylvain
(CEA Leti, Grenoble, 38054, France)
,
Barbe Jean-Charles
(CEA Leti, Grenoble, 38054, France)
,
Millar Campbell
(Synopsys Northern Europe Ltd, Glasgow, UK)
,
Lorenz Jurgen K.
(Fraunhofer IISB, Erlangen, 91058, Germany)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2019
号:
SISPAD
ページ:
1-4
発行年:
2019年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)